通常在生产环境中，在不同的区域之间由于温差、风扇或其它形成空气流动因素出现而导致空气的流动，真空---检漏，而任何空气流动对于检漏能力都具有一定的作用，因为被检测的气体将被穿堂风吹离吸探尖的开口为取得---的测试结果，试漏区应屏蔽这些风带来的---影响。
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（1）吸质谱检漏，真空箱式---检漏，假定流量为300 sccm， 则检漏仪的真实本底为 q=pv*d(t)=2.5e-5mbarl/s，但行业中吸式都标准在常压情况下能测到e-7，是因为加入了软件滤波（抑零）等。
（2）真空法，---本底=分子泵抽速（辅助泵有则加上）*腔体内---浓度*入口处压力，有很多外部条件。
采用背压法检漏时，首先将被检产品置于高压的---气室中，浸泡数小时或数天，如果被检产品表面有漏孔，---气便通过漏孔压入被检产品内部密封腔中，使内部密封腔中---分压力上升。然后取出被检产品，将表面的残余---气吹除后再将被检产品放入与检漏仪相连的真空容器内，被检产品内部密封腔内的---气会通过漏孔泄漏到真空容器，再进入---质谱检漏仪，河北---检漏，从而实现被检产品总漏率测量。检漏仪给出的漏率值为测量漏率，需要通过换算公式计算出被检产品的等效标准漏率。
背压法的优点是检测灵敏度高，能实现小型密封容器产品的泄漏检测，可以进行批量化检测。
背压法的缺点是不能进行大型密封容器的漏，否则由于密封腔体容积太大，导致加压时间太长。此外，每个测量漏率都对应两个等效标准漏率，在细检完成后还需要采用其它方法进行粗检，排除大漏的可能。
背压法的检漏标准主要有qj3212-2005<---质谱背压检漏方法>、gjb360a-1996<电子及电气元件试验方法方法112 密封试验>，主要应用于各种电子元器件产品检漏。
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