采用正压法检漏时，需对被检产品内部密封室充入高于一个---压力的---气，当被检产品表面有漏孔时，---气就会通孔漏孔进入被检外表面的周围---环境中，再采用吸的方式检测被检产品周围---环境中的---气浓度增量，从而实现被检产品泄漏测量。按照收集---气方式的不同，又可以将正压法分为正压吸法和正压累积法。其中正压吸法采用检漏仪吸对被检产品外表面进行扫描探查，可以实现漏孔的; 正压累积法采用有一定密闭功能的---罩将被检产品全部罩起来，采用检漏仪吸测量一定时间段前后的---罩内---气浓度变化量，蒸发器真空炉检漏价格，实现被检产品总漏率的测量。
正压法的优点是不需要辅助的真空系统，可以，实现任何工作压力下的检测。
正压法的缺点是检测灵敏度较低，检测结果不确定度大，受测量环境条件影响大。
正压法的检测标准主要有qj3089-1999<---质谱正压检漏方法>、qj2862-1996<压力容器焊缝---质谱吸罩盒检漏试验方法>，主要应用于大容积高压密闭容器产品的检漏，如高压---气瓶、舱门检漏仪等。
为了防止半导体器件、集成电路等元器件的表面因玷污水汽等杂质而导致性能退化，蒸发器真空炉检漏生产厂家，就必须采用管壳来密封。但是在管壳的封接处或者引线接头处往往会因为各种原因而产生一些肉眼难以发现的小洞，蒸发器真空炉检漏，所以在元器件封装之后，就需要采取某些方法来检测这些小洞的存在与否。 ---气检漏就是采用---气来检查电子元器件封装管壳上的小漏洞。因为---原子的尺寸很小，容易穿过小洞而进入到管壳内部，所以这种检测方法能够检测出尺寸很小的小洞（即能够检测出漏气速率约为10?11～10?12cm3/sec的小洞），灵敏度可与性检漏方法---，但要比性检漏方法简便。
---气检漏试验的方法：首先把封装好的元器件放入充满---气的容器中，并加压，让---气通过小洞而进入管壳中；然后取出，并用压缩空气吹去管壳表面的残留---气；接着采用质谱仪来检测管壳外表所漏出的---气。
大家都知道气分子内部结构稳定，化学性质并不活泼并且密度较小，由于这些特性---气不会，也不容易和其他物质发生反应。因为这些性质，所以---气经常被用来检漏。
其实任何可以感测气体分压之质谱仪，均可以作为真空系统漏气之侦测，通常为分子量较轻的气体，---气渗透漏孔，蒸发器真空炉检漏服务， 的质谱测漏仪，多将质普分析器固定在特定，通常为---气的，以---气为漏气体在欲侦测处到处喷---气，观察质普是否改变，来办别是否有漏气，这是---气检漏的原理。
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